波形获取分析LTE工具箱测试测量设备

示例使用

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LTE波形应用LTE工具箱TM、工具控制工具箱TM和RF信号分析硬件

导言

LTE工具箱可用于执行标准编码和自定义编码分析基带LTE信号LTE工具箱使用工具控制工具箱允许用测试测量硬件捕捉波形并带入MATLABQI以可视化分析解码

工具控制工具箱使用Keysight TechnologyN9010A信号分析器捕获空外LTE信号并检索MATLAB分析空域信号使用Keysight技术N5172B信号生成

例子中捕获波形使用LTE工具箱执行二次测量分析

邻接通道漏电比ACLR用于测量流入邻近通道的电量并定义为滤出平均电量之比,以分配信道频率为中心与滤出平均电量以邻近通道频率为中心看吧LTE下行链路邻接通道漏电率详细解释
PDSCH错误向量EVM表示理想符号与均衡后测量符号之差看吧PDSCH误差向量测量详细解释

生成超空信号

LTE工具箱可用于生成标准或定制基带IQ波形波形生成传输LTE工具箱测试测量设备展示如何使用LTE工具箱和Keysight技术信号生成器生成超空LTE波形

Keysight技术N7624B信号工作室和N5172B信号生成器用于生成标准达标RFLTE下行链路波objective 1GHz选择示例频度,并不打算成为识别LTE通道

4ms5MHzFDR.6引用测量通道波形生成并循环捕捉HARQ复发系统关闭以简化接收器同步程序,OCNG可填充未使用资源元件以保持信号电源常数

LTE信号参数

分析接收波形时必须知道数项系统参数标准RMC波形捕获ITERMCDL生成RMCR.6配置结构提供分析所需的参数,如信号带宽、下行链路控制配置和资源配置反之,这些参数可以通过盲解码获取,如图文所示手机搜索、MIB和SIB1恢复.

RMC配置百分比mc=ltRMCDLR.6);保证HARQ复发机关闭百分比冗余版在每个子框架都相同这个%简化同步性,因为接收者不需要计数RV模式的%跨多框架mc.PDSCH.RVSeq=0单传输运输块激活OCNG填充mc.OCNGPSCHEN开脱机mc.OCNGPDC开;写采样率和UTRA芯片率到配置结构允许计算ACLR参数info=lteOFDMInfo(rmc)mc.采样Rate=fe.SerblingRateUTRA芯片率% MCPSmc.UTRACIPRate=3.84

计算ACLR参数

ACLR测量参数使用助手函数计算hACLRParameters.m.

确定测量带宽-测量带宽范围应覆盖两个E-UTRA相邻通道与信号和TS36.104表6.6.2.1-1给出的2MHzUTRA通道相同带宽
确定UTRA参数-UTRA芯片率和带宽

计算ACLR测量参数aclr,nRC,R_C,BWUTRA

从信号分析器获取MATLAB基带信号

工具控制工具箱用于配置Keysight技术N9010A信号分析器和抓取基带IQ数据助手函数hCaptureIQUsingN9010A.m取基带IQ数据并取信号分析器采样率,准备MATLAB分析注意40子框架捕捉分析

ACBSubframes=40子框架数中值=1e9千兆赫中心频率频率范围应覆盖两个E-UTRA相邻通道带宽与信号和双5MHzUTRA信道相同startFreq = centerFrequency-aclr.BandwidthACLR/2!stopFreq = centerFrequency+aclr.BandwidthACLR/2!外部 trigger=假actimes*1e3% 1子框架为1msResBW=913视频BW=913[captureWaveform,captureSampleRate] = hCaptureIQUsingN9010A(.'A-N9010A-21026.dhcp.mathworks.com'Captime公司.centerFrequency,stopFreq-startFreq,externalTrigger,startFreq,stopFreq,.sBW视频BWrxWaveform =capteWaveform(1:+-1)抓取样本=圆形(抓取样本);

绘图接收信号频谱

检验函数hCaptureIQUsingN9010A.m更多细节输入参数和命令配置Keysight技术N9010A信号分析器并检索数据

绘制取时域基波形频谱使用dSP系统工具箱TMspectrumAnalyzer对象显示预期LTE5兆赫占用带宽和邻接带测量ACLR

频谱PlotRx=频谱解析器频谱PlotRx.Method=wellch大全脱机频谱PlotRx.SampleRate =captSampleRate频谱PlotRx.spectrumType=权密度脱机频谱PlotRx.spectrumUnits=dbm脱机频谱PlotRx.RBW源码礼仪化脱机频谱PlotRx.RBW=1.3e3频谱PlotRx.FrecenteSpan='span-and-center-frequency'脱机频谱PlotRx.span=acler.bandwidACLR频谱PlotRx.CenterFre频谱PlotRx.Window=矩形脱机频谱PlotRx.Yimits频谱PlotRx.Ylabel=PSD脱机频谱PlotRx.showLegend=假频谱PlotRx.tle=接收信号频谱5兆赫LTE载波+2相邻E-UTRA和UTRA频带脱机spectrumPlotRx(rxWaveform);

邻接载波泄漏比测量

E-UTRA和UTRAACLR捕获波形使用助手函数测量hACLRMeasurementEUTRA.m并hACLRMeasurementUTRA.m.实例LTE下行链路邻接通道漏电率详细描述E-UTRA和UTRA测量传感器使用过滤器影响ACLR性能,因此通过优化传输侧滤波可改进ACLR

%应用要求重采样计算ACLR捕获采样率百分比必须大于ACLR采样率以正确测量ifscapsSmplate < acler.ScamplingRate警告捕获采样率(%d)小于最小采样.ACLR测量率 (%d),ACLR可能不准确],captureSampleRate,aclr.SamplingRate);结束resampled = resample(rxWaveform,aclr.SamplingRate,captureSampleRate);测量E-UTRA和UTRAACLRacler = hACLRMeasurementEUTRA(acler,重采样)aclr = hACLRMeasurementUTRA(aclr,resampled,nRC,R_C,BWUTRA);splotACLR结果fprintf/nACLR分析)!hACLRResults(aclr);

ACLR Analysis:           Bandwidth: 5000000     BandwidthConfig: 4500000       BandwidthACLR: 25000000                 OSR: 4        SamplingRate: 30720000     EUTRACenterFreq: [-10000000 -5000000 5000000 10000000]       EUTRAPowerdBm: 13.9473             EUTRAdB: [45.6010 31.1040 31.1841 46.0544]        UTRAPowerdBm: 13.3327              UTRAdB: [46.0508 31.8147 32.0256 46.6009]      UTRACenterFreq: [-10000000 -5000000 5000000 10000000]

准备抓取LTE信号EVM分析

以上用于ACLR测量波段中还包含相邻带,EVM测量不需要这些波段。并同步到第一个框架边界以允许OFDM下调

rxWaveform = resample(rxWaveform,rmc.SamplingRate,captureSampleRate);%同步到第一个框架头偏移 =lteDLFAMETSET(rmc,rxWaveform)rxWaveform =rxWaveform(1+offset:end:提取2框架(20ms)分析framesAnalyse=2nFramesWaveform = length(rxWaveform)/(info.SamplingRate*10e-3)!rxWaveform =rxWaveform.1:(info.SamplingRate*(min(nFramesAnalyse,nFramesWaveform)*10e-3)));

PDSCH错误向量测量

平均EVM接收PDSCH符号使用助手函数测量hpdshevm.m.实例PDSCH误差向量测量TS36.104附件E显示标准兼容EVM测量法一号..注意助手函数hpdshevm.mEVM测试模型波形像生成波形生成传输LTE工具箱测试测量设备.

例子中通道估计器配置估计时间和频率变化通道,分析空外信号捕获稳妥9+9平均窗口用时频减少噪声对通道估计实验估计的影响

C.PilotAverage=User定义脱机ec.Freqwindow=9C.TimeWindow=9cec.IntropType=立方公尺脱机C.InpWinSize=3C.InterpWindow=搜捕;

平均EVM接收波形显示于命令窗口多块块还制作

VEM对OFDM符号
EVM对子载体
EVM对资源块
EVM对OFDM符号子载体EVM资源网格)

%执行EVM测量fprintfDEVM分析)!schevm(rmc,cec,rxWaveform);

EVM Analysis: Low edge EVM, subframe 0: 5.558% High edge EVM, subframe 0: 5.551% Low edge EVM, subframe 1: 5.751% High edge EVM, subframe 1: 5.736% Low edge EVM, subframe 2: 5.993% High edge EVM, subframe 2: 5.991% Low edge EVM, subframe 3: 5.797% High edge EVM, subframe 3: 5.815% Low edge EVM, subframe 4: 5.897% High edge EVM, subframe 4: 5.912% Low edge EVM, subframe 6: 5.928% High edge EVM, subframe 6: 5.938% Low edge EVM, subframe 7: 6.153% High edge EVM, subframe 7: 6.148% Low edge EVM, subframe 8: 5.133% High edge EVM, subframe 8: 5.113% Low edge EVM, subframe 9: 5.619% High edge EVM, subframe 9: 5.619% Averaged low edge EVM, frame 0: 5.769% Averaged high edge EVM, frame 0: 5.769% Averaged EVM frame 0: 5.769% Low edge EVM, subframe 0: 5.517% High edge EVM, subframe 0: 5.506% Low edge EVM, subframe 1: 5.632% High edge EVM, subframe 1: 5.615% Low edge EVM, subframe 2: 5.883% High edge EVM, subframe 2: 5.886% Low edge EVM, subframe 3: 5.821% High edge EVM, subframe 3: 5.806% Low edge EVM, subframe 4: 5.892% High edge EVM, subframe 4: 5.896% Low edge EVM, subframe 6: 5.894% High edge EVM, subframe 6: 5.889% Low edge EVM, subframe 7: 6.100% High edge EVM, subframe 7: 6.108% Low edge EVM, subframe 8: 5.183% High edge EVM, subframe 8: 5.167% Low edge EVM, subframe 9: 5.574% High edge EVM, subframe 9: 5.594% Averaged low edge EVM, frame 1: 5.731% Averaged high edge EVM, frame 1: 5.728% Averaged EVM frame 1: 5.731% Averaged overall EVM: 5.750%