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亚稳度损伤在Flash中ADC的效果

开放模式

这个例子展示了如何定制一个flash模拟到数字转换器(ADC)通过添加亚稳态概率作为一个障碍。你可以测量的亚稳定性概率损伤来验证您的实现。示例还显示了亚稳定性的影响在flash ADC的动态性能。当数字比较器的输出模糊(0和1),输出被定义为亚稳态。模糊输出表示为南。这个示例模型使用MATLAB函数块添加亚稳度损伤一个flash ADC架构。另一个子系统动态报告的亚稳定性概率。

定制Flash ADC

提取flash ADC添加定制的内部结构损伤。添加一个Flash ADC块从混合信号Blockset™图书馆一个仿真软件®画布。万博1manbetx看看面具下面找到ADC的平面结构。复制和粘贴完整结构到另一个新的空白画布。

删除时钟发生器块因为它不是用来提供时钟开始转换。外部刺激子系统用于这一目的。flash ADC现在包括三个主要组件:

  • Flash ADC比较器

  • 断层清楚的计数器

  • 输出数据类型

Flash ADC比较器

一个N一些flash ADC使用$ $ {2 ^ {Nbits}} $并行比较器。Flash ADC本身是基于MATLAB®代码比较器子系统。在仿真开始之前,比较器计算个人参考电压并将它们存储在一个向量。在每一个指定的边缘,输入比较引用使用MATLAB的能力比较向量。这生成温度计代码类似于真正的flash ADC,没有延迟N个人比较器模块的模型。

创建一个10位ADC,集的比特数(nbits)来10,输入范围来[1],INL向量来0。触发类型保持在其默认值吗前沿。

断层清楚的计数器

断层清楚的计数器子系统实现了flash ADC架构中的缺陷。真正从温度计adc处理转换到二进制逻辑电路。这个子系统的sum-of-elements向量的排序,并应用和存储的一个查找表来模拟缺失的代码,或称为泡沫。

设置错误意识的计数器参数:的比特数(nbits)来10,输入范围来[1],泡沫代码来[]。触发类型保持在其默认值吗前沿。

输出数据类型

输出数据类型子系统处理数据类型的转换断层清楚的计数器的输出到指定的数据类型的面具闪ADC。

打破了图书馆输出数据类型块之间的联系及其参考图书馆。集输入动态范围来[1]和双极型数据类型来双。

Flash ADC实现亚稳态概率作为一个障碍

添加亚稳度损伤,将触发子系统与MATLAB函数块Flash ADC后比较器子系统。MATLAB信号温度计功能块集代码nan均匀随机数生成器的概率。块重置信号下一个相关的边缘,这就是为什么一个触发子系统使用。使用这个代码来实现亚稳度损伤子系统。

%函数y =亚稳定性(u,概率)%乘= 1(大小(u));%相乘(兰德(大小(u)) <概率(1))=南;%亚稳度=南% y = u。*相乘;%结束

提供你想要的亚稳定性概率实现通过一个常数阻止连接概率端口。

实现测量亚稳态概率

测量亚稳度损伤,计数的数量nan遇到的和除以总数量的比较器输出生成期间完整的模拟。一个简单的仿真软件万博1manbetx实现亚稳定性概率测量:

港口有:

  • ADC输出——接收输出数字代码生成的flash ADC。

  • 准备好信号,接收就绪信号代表了数字转换的速度。每个前沿的数字代码生成的信号接收就绪信号端口。

模拟亚稳度测量

下面的模型结合了定制的flash ADC的输出连接到亚稳态概率测量系统。在模型中,你有一个flash 10位ADC的亚稳定性概率1 e-6补充道。100赫兹的刺激子系统生成一个模拟信号和一个开始转换时钟频率为100 MHz。定义的ADC运营速度开始转换时钟频率。仪表板提供了范围的行为概率随着时间的数量。一块显示显示当前测量的概率子系统。你必须运行模拟足够长的时间去看概率数量保持在所需的值,在这种情况下1 e-6。

NBits = 10;model1 =“flashAdc_metastability.slx”;open_system (model1);open_system ([bdroot,/时间范围的]);sim (model1);

亚稳度对ADC的动态性能的影响

你可以观察亚稳定性对adc的动态性能的影响。flash ADC系统的模型显示了两个设置:与亚稳度,另一个没有。一个后处理块,需要在受损的数字输出和转换nan0。这是因为数字输出nan不能被一个频谱分析仪作为光谱分析的有效信号。附加ADC交流测量块观察各种性能指标,如信噪比、第三,噪声地板等等。仿真结果表明AC分析原因与亚稳度的ADC的性能大幅度下降,如图所示的噪音更低的第三和更高的地板上。

model2 =“flashAdc_metastability_Effect.slx”;open_system (model2);sim (model2);

另请参阅

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