主要内容

传感器获得Testbench

测量传感器获得的系统

  • 传感器获得Testbench块

库:
射频Blockset /电路信封/ Testbenches

描述

使用传感器获得Testbench测量传感器获得(GT)的射频测试设备(DUT)。

参数

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参数

选择使用testbench内部配置块。明确该参数指定您自己的配置块。

请注意

使用您自己的配置块时,步长等参数,基本色调、谐波,和模拟噪音可能会影响测量结果。

选择,使噪声建模的刺激信号进入DUT和DUT内。

依赖关系

要启用该参数,选择使用内部配置块

输入功率DUT,指定为一个标量dBm。你可以改变输入功率通过输入文本框中的值使用旋钮或选择一个值。指定的输入功率代表了DUT的功率可以在输入端口。有效值是-90 dBm和60 dBm之间

DUT的载波频率,指定为一个标量赫兹。输入频率必须大于基带带宽。

DUT的输出频率,指定为一个标量赫兹。输出频率必须大于基带带宽。

输入信号的基带带宽,指定为一个标量赫兹。的值必须大于零。

电源电阻测量DUT,指定为一个积极有限标量欧姆。

负载电阻测量DUT,指定为一个积极有限标量欧姆。

选择视图使用光谱范围在模拟响应谱。

请注意

使用频谱分析仪查看响应谱,你需要一个DSP系统工具箱™许可证。

选择内部地面和隐藏的负面终端。明确公开的负面终端。通过揭露这些终端,您可以将它们连接到你的模型的其他部分。

引用

[1]哈,将核技术。射频微电子。上台北:Prentice Hall出版社,2011年。

Grob[2],齐格弗里德,尤尔根•林德纳。“多项式模型推导的非线性放大器”。信息技术部门德国乌尔姆大学。

版本历史

介绍了R2018a