OIP2 Testbench
测量系统的输出第二截距点
- 库:
射频模块/电路信封/测试台
描述
使用OIP2 Testbench
块来测量被测射频设备(DUT)的输出第二截距点(OIP2)。
参数
模型的例子
参考文献
拉扎维,贝扎德。射频微电子.上马鞍河,新泽西州:普伦蒂斯大厅,2011年。
[2]格罗布,齐格弗里德和尤尔根·林德纳。“非线性放大器的多项式模型推导”。资讯科技学系德国乌尔姆大学。
肯,昆德。IP2和IP3的精确和快速测量,设计师指南咨询公司.
版本历史
在R2018a中介绍