山姆
用光谱角映射器测量光谱相似度
描述
测量高光谱数据中每个像素光谱之间的光谱相似性分数
=山姆(inputData
,refSpectra
)inputData
和指定的参考光谱refSpectra
利用谱角映射器(SAM)分类算法。使用此语法可识别高光谱数据立方体中的不同区域或材料。
测量指定测试光谱之间的光谱相似性分数
=山姆(testSpectra
,refSpectra
)testSpectra
参考光谱refSpectra
采用SAM分类算法。使用此语法将未知材料的光谱特征与参考光谱进行比较,或计算两个光谱特征之间的光谱变异性。
请注意
此函数需要图像处理工具箱™高光谱成像库.您可以安装图像处理工具箱高光谱成像库从Add-On Explorer。有关安装插件的更多信息,请参见获取和管理插件.
例子
输入参数
输出参数
更多关于
参考文献
Kruse, F.A, A.B. Lefkoff, J.W. Boardman, K.B. Heidebrecht, A.T. Shapiro, P.J. Barloon, A.F.H. Goetz。光谱图像处理系统(SIPS) -成像光谱仪数据的交互式可视化和分析。环境遥感44岁的没有。2-3(1993年5月):145-63。https://doi.org/10.1016/0034 - 4257 (93) 90013 - n。
版本历史
在R2020a中引入