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模拟和分析模拟数字数据转换器的性能指标。从典型ADC架构的完整系统级模型开始,例如SAR或flash ADC。修改ADC参数,直到达到所需的系统规格。使用测量和Testbenches来验证您的设计。
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比较SAR ADC和理想ADC
这个例子展示了混合信号块集™的SAR ADC与分析有缺陷的简单ADC中的缺陷的理想ADC模型的比较。
Flash ADC亚稳态损伤的影响
这个例子展示了如何通过添加亚稳概率作为损伤来定制一个flash模拟数字转换器(ADC)。
比较二进制加权DAC和理想DAC
这个例子展示了混合信号块集™的二进制加权DAC与理想的DAC模型的比较。
实现一个基本的ADC使用零阶保持块作为采样器。这个简单的ADC突出了模数转换器中引入的一些典型缺陷,如孔径抖动、非线性、量化和饱和。这个例子展示了如何使用混合信号块集中的频谱分析仪块和ADC交流测量块来测量这种损伤的影响。为了更好地接近真实世界的性能,您可以单独启用模型中的缺陷。
具有电路级DAC模型的12位逐次近似寄存器(SAR) ADC。
一个具有流水线和第二级纠错的6位子区间ADC模型。
这种交错ADC模型突出了数据转换器引入的一些典型缺陷及其对更大系统的影响。
使用参考架构设计一个SAR ADC,并使用ADC测试台验证ADC。
模型12位过采样插值DAC。
使用参考体系结构设计和评估分段DAC,并使用DAC测试工作台验证DAC。对于本例,使用AD9775的数据表。这是来自模拟设备公司的一个商业的、现成的14位DAC。
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