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模拟和分析模拟到数字数据转换器的性能指标。从典型ADC架构的完整系统级模型开始,例如SAR或flash ADC。修改ADC参数,直到达到所需的系统规格。使用测量和Testbenches验证您的设计。
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比较SAR ADC和Ideal ADC
这个例子显示了混合信号块集™的SAR ADC与分析简单ADC有缺陷的理想ADC模型的比较。
Flash ADC中亚稳态损害的影响
这个例子展示了如何通过添加亚稳态概率作为损伤来定制一个flash模拟数字转换器(ADC)。
比较二进制加权DAC和理想DAC
这个例子展示了混合信号块集™的二进制加权DAC与理想的DAC模型的比较。
实现一个基本ADC使用零阶保持块作为采样器。这个简单的ADC突出了模数转换器中引入的一些典型缺陷,如孔径抖动、非线性、量化和饱和。这个例子展示了如何使用频谱分析仪块和来自混合信号块™的ADC交流测量块测量这些损害的影响。为了更好地接近真实世界的性能,您可以单独启用模型中的缺陷。
具有电路级DAC模型的12位逐次逼近寄存器(SAR) ADC。
用流水线和错误纠正第二阶段建立一个6位子转换ADC模型。
这个交错ADC模型强调了一些由数据转换器引入的典型损害以及它们对更大系统的影响。
利用参考体系结构设计SAR ADC,并利用ADC测试平台对ADC进行验证。
建立一个12位过采样插值DAC。
使用参考架构设计和评估分段DAC,并使用DAC测试台验证DAC。对于本例,使用AD9775的数据表。这是一个商业的,现成的14位DAC模拟设备。
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