测量和测试平台

分析模拟和混合信号系统的性能度量

分析使用测量块和测试平台混合信号系统的不同的基础块和系统级模型。您可以从混合信号模块库™库验证块，或者您也可以验证自己的自定义模块。

对于PLL，使用测量块来分析性能指标，如相位噪声，参考和分数杂散，孔径抖动，定时损伤，和锁定时间。使用块专用测试平台来验证您的自定义模块。

对于ADC，使用测量块分析关键性能指标，如孔径抖动，SNR，SINAD，噪声基底，偏移误差和增益误差。

使用系统级测试平台来验证您的PLL和ADC模型。

块

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锁定时间的测量 测量时间PLL需要给定公差范围内达到目标频率
相位噪声测量 计算的相位噪声在特定频率偏移矢量
PFD和电荷泵测试平台 相位/频率检测器和电荷泵一般性测试环境
VCO测试平台 验证电压控制振荡器（VCO），通过测量相位噪声度量或VCO的特性
PLL测试平台 验证PLL系统通过测量工作频率，锁定时间，和相位噪声
ADC AC测量 测量ADC输出的AC性能指标
ADC直流测量 测量ADC输出的DC性能指标
孔径抖动测量 测量的周期信号的孔径抖动
ADC测试平台 测量ADC输出的DC和AC性能指标
DAC DC测量 测量DAC输出的DC性能度量
DAC AC测量 测量DAC输出的AC性能度量
DAC测试平台 测量DAC输出的DC和AC性能度量
眼图范围 时域信号的显示眼图

功能

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phaseNoiseMeasure 在特定的频率偏移点测量和绘制相位噪声特性
inldnl 数据转换器的积分非线性（INL）和微分非线性（DNL）

精选示例

在PLL输出相位噪声

在PLL输出相位噪声

预测的相位噪声在一个锁相环（PLL）的输出端，模拟使用PLL测试平台的PLL，并比较模拟结果的理论预测。
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亚稳态减值的影响在Flash ADC

亚稳态减值的影响在Flash ADC

通过将亚稳态概率为减值定制闪速模数转换器（ADC）。您可以测量亚稳态概率损伤，以验证您的实现。这个例子也显示了亚稳态的闪光灯ADC的动态性能的影响。当来自比较器的数字输出的是不明确的（不是零也不是一个），输出被定义为亚稳态。模棱两可的输出表示为为NaN。此示例模型使用MATLAB函数块到亚稳态受损添加到闪速ADC架构。另一个子系统报告上飞的亚稳态概率。
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测量ADC偏移和增益误差

测量ADC偏移和增益误差

如何偏移误差和增益误差的计算，以及如何影响每个ADC的转换曲线。偏移误差和ADC的线性误差的增益误差特征分析的一部分。
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ADC线性测量使用直方图

ADC线性测量使用直方图

ADC线性度的统计测量是在物理系统流行，由于它的噪声容限，并在物理环境中实现相对简单。这个例子包括固有的统计线性测量和用于实现的Simulink这些测量一些可能的解决问题。万博 尤文图斯万博1manbetx
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混合信号模块库文件
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