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模拟和分析数码数据转换器的性能指标。从典型的ADC架构的完整系统级模型开始,例如SAR或Flash ADC。修改ADC参数,直到达到所需的系统规格。用测量和Testbenches验证您的设计。
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将SAR ADC与理想的ADC进行比较
该示例显示了SAR ADC从混合信号块Set TM的比较,以具有损伤分析简单ADC的损伤的理想ADC模型。
闪光ADC中常量性损伤的影响
此示例显示如何通过将卷复性概率添加为损伤来自定义闪光模数转换器(ADC)。
比较二进制加权DAC和理想DAC
该示例显示了二进制加权DAC与混合信号块Set TM的比较到理想的DAC模型。
使用零阶保持块作为采样器实现基本ADC。这种简单的ADC突出了在模数转换器中引入的一些典型损伤,例如光圈抖动,非线性,量化和饱和度。此示例显示了如何使用频谱分析仪块和来自混合信号块集™的ADC AC测量块来测量此类损害的影响。为了更好地近似真实世界的性能,您可以单独启用模型中的损伤。
具有电路级DAC模型的12位连续近似寄存器(SAR)ADC。
一个具有流水线和第二级纠错的6位子区间ADC模型。
这种交错的ADC模型突出了数据转换器引入的一些典型障碍及其对更大系统的影响。
使用参考架构设计SAR ADC并使用ADC TestBench验证ADC。
模型12位过采样插值DAC。
使用参考架构设计和评估分段的DAC,并使用DAC TestBench验证DAC。对于此示例,请使用AD9775的数据表。这是一种来自模拟设备的商业设备,现成的14位DAC。
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